DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（熱流法）,熱阻測(cè)試儀

（升級(jí)型）

一、概論：
    主要用于測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。 儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-2015（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2017（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）,GB/T 29313—2012 《電氣絕緣材料熱傳導(dǎo)性能試驗(yàn)方法》等。

     DRL-III熱流法導(dǎo)熱系數(shù)儀全部按到ASTM D5470-2017標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)、制造。該產(chǎn)品我公司已積累了十多年生產(chǎn)制造、用戶實(shí)踐的經(jīng)驗(yàn)，使產(chǎn)品性能不斷完善與成熟。采用伺服電機(jī)控制精準(zhǔn)自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度。 測(cè)試頭內(nèi)測(cè)試桿周圍增加了防護(hù)熱裝置（對(duì)試樣進(jìn)行熱防護(hù)），減小了環(huán)境溫度對(duì)測(cè)試的影響。可檢測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。采用最新技術(shù)冷端溫度自動(dòng)補(bǔ)償 ,不再需加冰水補(bǔ)償裝置。采用最新技術(shù)冷端溫度自動(dòng)補(bǔ)償 ,不再需加冰水補(bǔ)償裝置。

  用戶可根據(jù)占地實(shí)際選用標(biāo)準(zhǔn)型及小型機(jī)型（同性能），節(jié)約實(shí)驗(yàn)室空間。
     廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。

二、主要技術(shù)參數(shù)：
     1、試樣大小：Φ30mm或20x20mm（標(biāo)準(zhǔn)配置）,其它尺寸可定制。
     2、試樣厚度： 0.001～50mm（標(biāo)準(zhǔn)配置)，典型厚度：0.02～20mm。
     3、熱極控溫范圍：室溫～100℃（標(biāo)準(zhǔn)配置），控溫精度0.01℃?？筛鶕?jù)用戶要求生產(chǎn)：室溫～300℃,室溫～500℃。
     4、冷極控溫范圍：0～99.00℃,控溫精度0.01℃（配有高精度，大容量低溫水槽）。
     5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m.k, 0.1～300W/m.k,電腦軟件自動(dòng)切換量程。
     6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m².K/W。
     7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N,采用伺服電機(jī)控制，可精準(zhǔn)設(shè)置保壓的壓力值，控制精度1N。
     8、測(cè)厚測(cè)量范圍：0～50.00mm，精度0.1um。自動(dòng)測(cè)厚。

  9、試樣數(shù)量 ： 1塊（薄膜多片）。
     10、測(cè)試精度：優(yōu)于3%。
     11、實(shí)驗(yàn)方式：試樣不同壓力下熱阻測(cè)試、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試、接觸熱阻測(cè)試、老化可靠性測(cè)試,材料壓縮性能測(cè)試、試樣間接觸熱阻測(cè)試。

  12、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。

  13、電源： 220V/50Hz；500W。

三、典型測(cè)試材料：

     1、金屬材料、不銹鋼。 

     2、導(dǎo)熱硅脂。    

     3、導(dǎo)熱硅膠墊。 

     4、導(dǎo)熱工程塑料。

     5、導(dǎo)熱膠帶(樣品很薄很黏，難以制作規(guī)則的單個(gè)樣品，一邊用透明塑料另外一邊用紙固定) 。

     6、鋁基板、覆銅板 。   

     7、石英玻璃、復(fù)合陶瓷。 

     8、泡沫銅、石墨紙、石墨片等新型材料。

     9、電氣絕緣材料。

   DRL-II型

一、概述： 
    本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱樹脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB5598-2015（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2017（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。廣泛應(yīng)用在大中院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測(cè)。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1、試樣大?。褐睆?0mm

2、試樣厚度：0.02-20mm

3、熱極控溫范圍：室溫-299.99℃ ,控溫精度0.01℃。  

4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃。

5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m*k,0.1～300W/m*k
6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m²*K/W

7、測(cè)試精度：優(yōu)于3%。

8、試樣可在真空狀態(tài)下試驗(yàn)，確保測(cè)試環(huán)境及精度，真空度0.1MPa。

9、實(shí)驗(yàn)方式：a.材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。b、接觸熱阻測(cè)試。

10、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。

DRL-III-P型（真空型）

一、概述：

本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）：GB5598-2015（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2017（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。

儀器特點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度?？蓹z測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。

廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。

二、主要技術(shù)參數(shù)：
1、試樣大?。褐睆?0mm

2、試樣厚度：0.02-20mm

3、熱極控溫范圍：室溫-299.99℃,控溫精度0.01℃。 

4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃。

5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.01～50W/m*k, 0.1～300W/m*k
6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m²*K/W

7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N

8、位移測(cè)量范圍：0～50.00mm

9、測(cè)試精度：優(yōu)于3%。

10、試樣可在真空狀態(tài)下試驗(yàn)，確保測(cè)試環(huán)境及精度，真空度0.1MPa。

11、實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試、老化可靠性測(cè)試。

12、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。

 DRL-III熱流法導(dǎo)熱儀部分用戶名單

               （華中科技大學(xué)材料學(xué)院12臺(tái)套熱膨脹儀、導(dǎo)熱儀實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)場(chǎng)）